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DSP电机技术控制实验箱

F28335-DSP教学实验箱-介绍:

一、产品特点:
1、采用DSP开发板+电机驱动板+液晶触控显示的组合操作平台,方便用户实现电机控制的一体化开发;
2、DSP端采用研旭自主研发的28335实用板,以现今主流TMS320F28335为核心,采用六层核心板+底板的形式;
3、BLDC电机平台采用三相全桥隔离控制,精确的PID算法,保证电机精确运转;
4、板载硬件资源丰富,外扩功能强大,可满足各类项目实验。
5、4.3寸触控显示,采用工业类级别,满足恶劣的工作环境,友好的人机界面方便您更好的操作;
6、采用分拆独立的模块化设计理念,既可独立演示,又可整体工作;
7、对于电机控制有独特设计的电机控制口;
8、详细的用户手册,让您轻松入门掌握;
9、注重EMI设计,稳定高效,包括外扩和所有外设资源;
10、主流的F28335平台,是电机控制领域和电力检测领域的首选;
11、丰富的实验例程,可满足各种教学实验,尤其电机控制领域,方便用户对其进行移植。
二、实验箱设备参数:
  序号 项目 要求
D
S
P
1 主处理器 TMS320F28335(开发板形式)
2 键盘 外扩3*4矩阵键盘
3 液晶显示屏 12864液晶屏(带中文字幕库)
4 RS485接口 1路RS485接口
5 CAN 用于CAN总线组网
6 PWM接口 18路PWM(包含6路增强型PWM)
7 RS232接口 1路RS232接口
8 ADC输入接口 16路AD输入接口,反馈电机的状态
9 音频接口 Audio接口,提供录音、播音功能
10 捕捉接口 6路CAP捕捉口(和正交编码脉冲引脚共用)
11 DSP外扩接口 20位地址线和16位数据线及其他
12 SD卡接口 用户自配SD卡
13 开关电源 +5V,5A
B
L
D
C
14 三相无刷电机接口 可以与12V—36V电机相连,额定电流不超过4A
15 电机类型 有位置传感器和无位置传感器的无刷电机相连
16 26针接口,包括PWM脉冲输入接口,AD接口 可以与YXDSP-F28335A/B、
YXDSP-F2812/basic相连,PWM输入
17 BLDC_HALL接口 位置传感器电机的霍尔传感器输出
18 CAP_BEMF接口 与控制端CAP相连,无位置传感器电机反电动势输出端
19 CAP_HALL接口 与控制端CAP相连,有位置传感器的电机霍尔输出端
20 电机电源输入接口 24V直流母线电压的输入端


21 液晶显示屏 工业级4.3寸LCD串口屏,480*272分辨率,5V供电,带触摸
22 核心处理器 CORTEX-M3内核+高速FPGA
23 通讯接口 RS232电平
23 上位机软件 VisualTFT
三、DSP技术指标
1、主处理器:TMS320F28335,主频150MHz
2、SRAM :   片内:34K ×16位,0等待,片外:512K×16位,15ns
3、FLASH:   片内:256K×16位,36ns,片外:512K×16位,70ns
4、ROM:     片内:BOOT ROM  8K×16位,片内:OPT ROM   1K×16位,36ns
5、A/D:     片内:2×8通道,12位分辨率,80ns转换速率,0~3V输入量程
6、HOST USB2.0:          1通道,全速
7、SCI 异步串口:         2通道,MAX3232
8、CAN总线:             1通道,符合CAN2.0规范,最高传输速率1Mbps
9、以太网:               1通道,兼容NE2000,最高传输速率10M
10、工作温度:            0~70℃
BLDC技术指标
1、直流母线电压+12~36V
2、电机额定电流不超过 4A
3、电机霍尔传感器的供电电压+5V
4、过压过流指示
DSP端基本配置
1.JTAG接口:DSP仿真器连接接口,可进行在线仿真和烧写程序。
2.SCI接口:1路232接口,1路485接口,可以与上位机进行串行通信。
3.PWM接口:18PWM(其中6路高精度HPWM),方便电机控制。
4.CAP接口:4路CAP捕捉口(和6路正交编码脉冲引脚公用)。
5.CAN:1路CAN2.0接口,用于CAN总线组网。
6.ADC输入接口:16路AD输入接口,12位精度,输入电压范围:0—3V。
7.音频接口:3路Aduio接口,提供录音、播音功能
8.电机控制接口:两组电机控制接口,每组可以控制一台3相电机。
9.DSP外扩接口:20位地址线和16位数据线及其他。
10. 一个X1226实时时钟和2KB的I2C  EEPROM。
11.手动复位按钮,方便用户复位操作
12.SD卡槽:可以外挂移动SD卡   
四、DSP实验项目
实验 1: GPIO-LED 测试
实验 2: GPIO-Setup 实验
实验 3: TIMER0 定时测试
实验 4: TIMER1 定时测试
实验 5: 按键中断实验
实验 6: FFT 实验
实验 7: 音频输入实验
实验 8: SCIB 通信实验
实验 9: SCIC 的 RS485 通信实验
实验 10: SD 卡建立 txt 文件实验
实验 11: 浮点运算实验
实验 12: 看门狗实验
实验 13: 外部 Flash 读写实验
实验 14: 外部 RAM 读写实验
实验 15: 外部 RTC 时钟实验
实验 16: 外部 EEPROM 读写实验
实验 17: DMA 方式读写外部 RAM 实验
实验 18: PWM 实验
实验 19: 捕获实验
实验 20 :CAP 捕获 PWM 信号实验
实验 21: SPI 中断方式自测实验
实验 22: Mcbsp 配置为 SPI 自测实验
实验 23: Mcbsp 中断方式自测实验
实验 24: DMA 方式读 mcbsp 实验
实验 25: AD 查询实验
实验 26: 片上触发 AD 实验
实验 27: CAN 自测实验
实验 28: CAP 配置为 APWM 实验
实验 29: HRPWM 实验
实验 30:高分辨率 PWM 实验
实验 31: 线性卷积实验
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