主页 > 技术文章 > 电工电子分层实验--集成逻辑门的功能测试 2021-12-02

电工电子分层实验--集成逻辑门的功能测试

任务：
一、完成“与非”门、“或非”门的逻辑功能测试和门控制功能实验，应用逻辑门实现简单的组合逻辑电路。（C类）
（1）完成TTL“与非”门74LS00的逻辑功能及输入输出端电平的测试，将测试结果记录于表1中。
（2）完成CMOS“或非”门CD4001逻辑功能和门的控制功能测试，将逻辑功能测试结果记录于表1中，记录门控制功能实验的输入输出波形。
（3）用1片TTL“与非”门74LS00芯片实现“异或”运算，并进行逻辑功能测试，将测试结果记录于表1中。用“与非”门实现“异或”运算的逻辑表达式为：

，逻辑电路图如图1所示。
表1 门电路逻辑功能及“与非”门输入输出电平测试实验结果

逻辑关系测试结果		输入输出电平测试结果
A	B	A端电平值（V）	B端电平值（V）	端电平值（V）
0	0
0	1
1	0
1	1

图1用“与非”门实现“异或”运算的电路图

二、用2片74LS00设计一个能实现“同或”运算的电路，并对电路进行逻辑功能测试，自行列表记录逻辑功能测试结果。（B类）
三、用1片CD4001设计一个能实现“同或”运算的电路，并对电路进行逻辑功能测试，自行列表记录逻辑功能测试结果。（A类）

电工电子分层实验--集成逻辑门的功能测试

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